低溫沖擊試驗設備

柳沁低溫沖擊試驗設備用途：

適用于半導體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實(shí)際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調節壓縮機制冷功率，較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件均采用*，使柳沁品牌的半導體冷熱沖擊試驗箱與半導體冷熱沖擊試驗機的整體質(zhì)量和穩定性得到了提升和保證。本公司還可以根據顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。

滿(mǎn)足

GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 10592-1989高低溫試驗箱 技術(shù)條件

柳沁低溫沖擊試驗設備

技術(shù)參數：

可選擇的容積有如下：

50L內箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

80L內箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

150L內箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

250L內箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

512L內箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

1000L內箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實(shí)物尺寸為準

溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃

蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+165℃

蓄冷箱溫度范圍：0℃ ～-75℃

試驗箱均勻度：±2℃

設備波動(dòng)度：±0.5℃

溫度沖擊速率：3~5min完成

附屬功能:

預先設定試驗開(kāi)始時(shí)間，試驗箱自動(dòng)開(kāi)始起動(dòng)并準備開(kāi)始試驗。

進(jìn)氣口在環(huán)境溫度曝露時(shí)吸進(jìn)外面的空氣。

排氣口從機械室和試驗區排出熱氣定時(shí)預定功能。

曝露時(shí)間縮短功能。

試驗區的下風(fēng)溫度達到曝露溫度后轉換到下一個(gè)曝露的功能。

前處理/后處理功能。

在循環(huán)試驗開(kāi)始前或結束后，試樣被曝露在高溫環(huán)境中（熱處理）維持一定時(shí)間。

干燥運轉功能。

試驗結件下運轉一定的時(shí)間。

不同溫段沖擊：由多級蒸發(fā)器結構相應切斷，控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節能；另有獨立的換氣閥門(mén)，在排氣（常溫恢復）時(shí)動(dòng)作引入環(huán)境空氣。