半導體冷熱沖擊使用箱

半導體冷熱沖擊使用箱適用于半導體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。本設備可實(shí)際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動(dòng)調節壓縮機制冷功率，較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件均采用*，使柳沁品牌的半導體冷熱沖擊試驗箱與半導體冷熱沖擊試驗機的整體質(zhì)量和穩定性得到了提升和保證。本公司還可以根據顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。

技術(shù)參數：

常規型號:LQ-TS-50;LQ-TS-80;LQ-TS-150;LQ-TS-252;

尺 寸可選擇:W×H×D:40×35×30（cm）；50×40×40 （cm）；60×50×50 （cm）；70×60×60（cm）更大尺寸可非標定制。

溫度沖擊范圍:-40~+150 ℃;溫度沖擊范圍:-55~+150 ℃;溫度沖擊范圍:-65~+150 ℃

性能:試驗方式:氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換 2 溫室或 3 溫室方式

高溫室:預熱溫度范圍:60 ～ + 200 ℃

升溫速率:RT. → + 200 ℃　約 3 5 分鐘

低溫室:預冷溫度范圍:-55 ～ -10 ℃

降溫速率:+ 20 → -55 ℃ 約 6 0 分鐘

試驗室溫度范圍:-40 － +150 ℃

溫度偏差:±2 ℃

溫度恢復時(shí)間:5 分鐘以?xún)?/span>

恢復條件:高溫曝露;低溫曝

150 ℃： 30 分鐘;－ 40 ℃： 30 分鐘/150 ℃： 30 分鐘;－ 55 ℃： 30 分鐘

※ 1. 溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時(shí)的性能； 2. 恢復條件：室溫為＋ 20 ℃。

半導體冷熱沖擊使用箱主要部分、結構

材 料:外殼:紋路處理不銹鋼板或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板靜電噴塑

內體:不銹鋼板 (SUS304)

絕熱:聚氨酯泡沫和玻璃纖維

構成:高溫室:加熱器:鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器

風(fēng)機:高溫環(huán)境溫度曝露時(shí)共用離心風(fēng)機，預熱用軸流風(fēng)機

低溫室:加熱器、冷卻器:鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器 、翅片式冷卻器、蓄冷器

風(fēng)機:離心風(fēng)機

驅動(dòng)裝置:氣動(dòng)氣缸:高溫、環(huán)境溫度、低溫曝露時(shí)的各個(gè)風(fēng)門(mén)驅動(dòng)用

空氣壓縮機:提供驅動(dòng)氣動(dòng)風(fēng)門(mén)的壓縮空氣(選件)

制冷機組:制冷方式:機械壓縮二元復迭制冷

壓縮機:歐美*全封閉或半封閉壓縮機

制冷劑:環(huán)保冷媒 R-507/R-23

冷凝器:不銹鋼釬焊板式換熱器

■規格內部尺寸 (cm)

電 源:AC 380±10%V 50±0.5 Hz ， 三相四線(xiàn) + 保護地線(xiàn)

功 率 (kw):16kw ;25kw;30kw;40kw;22kw;30kw;35kw;47kw

試樣重量:2.5kg;5kg;10kg;15kg;2.5kg;5kg;10kg;15kg

■標準配置:累計計時(shí)器 1 個(gè)，引線(xiàn)孔( 25×100mm 長(cháng)圓型孔 箱體左側面) 1 個(gè)，腳輪 6 個(gè)，調整腳 4 個(gè)

■*安全裝置

漏電斷路器，試驗室溫度過(guò)高、壓縮機超壓、過(guò)低保護器(控制器內置)，排氣閥，試樣電源控制端子，高、低溫室超溫保護(控制器內置)，過(guò)熱保護，風(fēng)機熱繼電器，斷水繼電器，電動(dòng)機反轉防止繼電器，電動(dòng)機溫度開(kāi)關(guān)，壓縮空氣壓力開(kāi)關(guān)，保險絲。